ESI Allegro XP是专为多层陶瓷电容器（MLCC）制造商设计的高通量电气测试系统，特别适用于生产大尺寸、高电压电容，广泛应用于汽车、物联网、手持设备及商用通信设备等领域。

主要特点

高压测试能力：支持最高1kV的电气测试，满足新一代高压芯片的测试需求。

低冲击芯片处理技术：采用ESI专利的低冲击旋转式芯片传送技术，有效降低测试过程中的芯片损伤风险。

超高速测试：测试速度高达每分钟16,666颗（每小时100万颗），大幅提升生产效率。

广泛电容支持：支持120 Hz / 1 kHz / 1 MHz测试频率，覆盖全系列MLCC尺寸。

柔性接触技术：专利脉冲驱动接触技术，最小化端子印记，保持接触稳定性。

支持元件尺寸

0603 (1608 metric)

0805 (2012 metric)

1206 (3216 metric)

1210 (3225 metric)

测试功能

电容 & DF（120Hz、1kHz、1MHz）

IR 预充电、预浸泡、电流测量

100% 数据采集（可选）

基本参数

产量：最高16,666颗/分钟（100万颗/小时）

测试电压：2V – 600V（标准），可选最高1,000V

充电电流：2mA – 250mA（标准），可选2mA – 90mA（高压保护）

测量电流：1pA – 2mA，可选18mA

分选仓：最多9个（含容差、废品、复测仓）

控制系统：多核处理器、触控屏、网络控制（可选）

ESI Allegro XP MLCC测试分选机规格书.pdf